X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak atomik ve moleküler bilgi sağlanması amacıyla kullanılan sayısal bir analiz tekniğidir. Çekirdek-seviyelerinin incelenmesi ve bunu takiben yayılan çekirdek fotoelektronların analiz edilmesiyle numune yüzeyinin bileşimi ve elektrostatik seviyesi hakkında bilgi verir.

XPS kullanarak, bazı önemli sorular yanıtlanabilir.

·         Numune yüzeyinde hangi elementler bulunuyor?

·         Bu elementlerin hangi seviyeleri mevcut?

·         Farklı seviyelerde bulunan farklı elementlerden ne kadar mevcut?

·         Malzemelerin üç boyuttaki dağılımı nedir?

·         Malzeme yüzeyde ince bir tabaka halinde mevcut ise,

o   Film kalınlığı nedir?

o   Film kalınlığı düzenli mi?

o   Filmin kimyasal bileşimi düzenli mi?

XPS saf ve uygulamalı tüm bilim dallarında- bunun yanı sıra sorun giderme ve kalite güvence amaçlı- yaygın olarak kullanılmaktadır. En çok kullanılan uygulama alanları bazı ana başlıklar altında toplanabilir.

·         Metaller ve alaşımların yüzeylerinin mikroanalizi

·         Mineral yüzey çalışmaları

·         Polimer çalışmaları

·         Tıbbi amaçlı kullanılan malzemelerinin analizi

·         Çimento ve beton yüzeyleri çalışmaları

·         Temel atomik fizik çalışmaları

Boğaziçi Üniversitesi İleri Teknolojiler Ar-Ge Merkezi’nde bulunan laboratuvarımızda, Thermo Scientific K-Alpha X-ray Fotoelektron Spektrometresi kullanılmaktadır.

Ayrıntılı bilgi için lütfen İngilizce sayfamızı ziyaret ediniz.