Herhangi bir talebinizden önce lütfen cihaz uzmanına danışınız.

Uzman : Dr. Burcu Selen ÇAĞLAYAN

Telefon : +90 212 359 68 56, 359 48 06
E-mail : selenbur@bogazici.edu.tr

Merkezimizde Thermo Scientific K-Alpha X-ışını fotoelektron spektroskopisi hizmet vermektedir.

X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS), yüzey bileşiminin nicel (kantitatif) analizini yapan bir tekniktir ve malzemenin yüzeyine ilişkin atomik ve moleküler bilgileri sağlayabilmektedir. Bu teknik, çekirdek seviyelerini incelemek ve ardından bir numunenin yüzey bölgesinin bileşimini ve elektrostatik durumlarını, yayılan çekirdek fotoelektronlarının enerji ayrışımlı analizi yoluyla incelemek için kullanılır.

XPS kullanılarak bazı önemli sorular yanıtlanabilir:

• Yüzeyde hangi elementler bulunmaktadır?
• Bu elementlerin hangi kimyasal durumları vardır?
• Her bir elementin her bir kimyasal durumundan ne kadar bulunmaktadır?
• Malzemelerin üç boyutlu uzaysal dağılımı nasıldır?
• Eğer malzeme yüzeyde ince film halinde bulunuyorsa:
  • Film ne kadar kalındır?
  • Kalınlık ne kadar homojendir?
  • Filmin kimyasal bileşimi ne kadar homojendir?

XPS, saf ve uygulamalı bilimlerin tüm alanlarında — ayrıca sorun giderme ve kalite güvencesi amacıyla — yaygın olarak kullanılmaktadır. Başlıca kullanım alanlarından bazıları şunlardır:

• Metallerin ve alaşımların yüzey mikrotahlili
• Minerallerin yüzeylerinin incelenmesi
• Polimerlerin incelenmesi
• Tıbbi amaçlarla kullanılan malzemelerin incelenmesi
• Çimento ve betonların yüzey analizi
• Temel atom fiziği çalışmaları

Boğaziçi Üniversitesi İleri Teknolojiler Ar-Ge Merkezi laboratuvarında Thermo Scientific K-Alpha X-ışını Fotoelektron Spektrometresi kullanılmaktadır.

Ana Özellikler

Analizör

• 180° çift odaklamalı hemisferik analizör
• 128 kanallı dedektör

X-ışını kaynağı

• Al Kα mikro odaklı monokromatör
• Değişken nokta boyutu (30-400µm, 5µm adımlarla)

İyon Tabancası

• Enerji aralığı: 100-4000 eV

Yük Telafisi

• Çift ışın kaynağı
• Ultra düşük enerjili elektron demeti

Numune İşleme

• 4 eksenli numune tablası
• 60 x 60 mm numune alanı
• Maksimum 20 mm numune kalınlığı

Vakum Sistemi

• 260 l/s’lik 2 turbo moleküler pompa (giriş ve analiz odaları için)
• Otomatik ateşlemeli, 3 filamanlı TSP

Veri Sistemi

• Avantage veri sistemi
• İşleme lisansı
• Bilgisayar

K-Alpha XPS: Araştırmadan Rutin Analize

Yüksek Performanslı Spektroskopi

• 30–400 μm arasında kaynak tanımlı analiz alanı
• 5 μm adım boyutu ile analiz alanının özelliklere tam uyum sağlaması
• Hızlı survey spektrum alımı
• Kimyasal durum belirlemede mükemmel enerji çözünürlüğü

Kimyasal Durum Görüntüleme (XPS Imaging)

• Spektral görüntüleme
• Hızlı 128 kanallı anlık spektrumlar
• Tüm numune tablası alanında görüntüleme
• Otomatik optik görüntülerle XPS verilerini üst üste getirme

Yalıtkan Analizi

• Yalıtkan numunelerin son teknoloji yük telafisi ile kolayca analizi
• Basit tek tıkla kullanım

Derinlik Profilleme

• İyon tabancası düşük demet enerjisinde bile yüksek akım yoğunluğu sağlar
• Azimutal ve Comp-eucentric döndürme
• İyon tabancası ve gaz kontrolünün bilgisayar üzerinden tam denetimi ile yüksek tekrarlanabilirlik
• Kaynakların otomatik hizalanması

Avantage™ Veri Sistemi

Avantage™ veri sistemi, kapsamlı bir yazılım paketi içerir:

• Tam cihaz kontrolü
• Veri alımı:
  • Spektrumlar
  • Görüntüler
  • Profiller
  • Çizgi taramaları
• Veri yorumlama:
  • Otomatik element ve kimyasal durum tanımlaması
• Veri işleme:
  • Kantifikasyon, pik uydurma, gerçek zamanlı profil gösterimi, spektrum-görüntü manipülasyonu
• Gelişmiş işleme:
  • PCA, Faz analizi, TFA, NLLSF, PSF kaldırma
  • Optik/XPS görüntü üst üste getirme
• Rapor oluşturma
• Vakum sistemi ve numune işleme